邓林,邓明,张成伟,何文波.有源相控阵可靠性分析及设计[J].装备环境工程,2012,9(2):21-24. DENG Lin,DENG Ming,ZHANG Cheng-wei,HE Wen-bo.Reliable Analysis and Design for Active Phased Array[J].Equipment Environmental Engineering,2012,9(2):21-24.
有源相控阵可靠性分析及设计
Reliable Analysis and Design for Active Phased Array
投稿时间:2011-11-08  
DOI:
中文关键词:  雷达工程  可靠性  表决模型  氮化镓  有源相控阵
英文关键词:radar engineering  reliability  m-out-of-n model  GaN  active phased array
基金项目:中文基金项目
作者单位
邓林 中国电子科技集团公司第二十九研究所,成都610036 
邓明 中国电子科技集团公司第二十九研究所,成都610036 
张成伟 中国电子科技集团公司第二十九研究所,成都610036 
何文波 中国人民解放军驻电子二十九所军事代表室,成都610036 
AuthorInstitution
DENG Lin No.29Research Institute of China Electronics Technology Group Corporation,Chengdu610036,China 
DENG Ming No.29Research Institute of China Electronics Technology Group Corporation,Chengdu610036,China 
ZHANG Cheng-wei No.29Research Institute of China Electronics Technology Group Corporation,Chengdu610036,China 
HE Wen-bo Military Representative Office in No.29Research Institute,Chengdu610036,China 
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中文摘要:
      基于有源相控阵原理和特点,对有源相控阵可靠性特征展开了分析。在同等复杂度下,采用可靠性表决模型和全串联模型对可靠性特征进行了对比分析,给出了有源相控阵表决模型设计的工程经验参数,并利用氮化镓器件对有源相控阵高可靠性设计进行了展望。
英文摘要:
      The reliability feature of active phased array was discussed based on its principle and technical features. The reliability feature of active phased array was compared and analyzed using m-out-of-n model and serial model in different complexity. The reliability design parameters of active phased array in m-out-of-n model were put forward. High reliability design of active phased array was prospected with example of GaN high-electron mobility transistors (HEMTs).
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